超高分辨热场发射扫描电子显微镜JSM-7600F
是日本电子株式会社2008年下半年推出的兼顾冷场的高分辨率和热场大束流为一体的热场发射扫描电镜，它几乎集成了当时扫描电镜的较新技术，最大200nA的大电流在保证高分辨率的同时，得到高速样品分析结果，空间分辨率极高，对导电性差的样品也有很多解决办法。JSM-7600F自动化程度高，操作直观方便，可以称得上是一款较佳性能的场发射扫描电镜。

进口电子显微镜_日本电子扫描电子显微镜（扫描电镜/SEM)_超高分辨热场发射扫描电子显微镜JSM-7600F主要特点
1.主动式减震器
2.磁悬浮分子泵系统，无需UPS保护
3.标配的五轴马达驱动全对中样品台
4.全自动样品更换气锁
5.全自动样品监控系统
6.全自动物镜光阑
7.多通道显示系统
8.减速系统标准配置
9.能量过滤器标准配置
10.可以选配1.5nm高分辨LABE背散射电子探头
11.可以选配扫描投射探头（STEM）
超高分辨热场发射扫描电子显微镜JSM-7600F技术参数
SEI 分辨率 1.5 nm（1 kV）（在GB 模式下），1.0 nm（15 kV）
放大倍数 25 到 1,000,000x
加速电压 0.1 到 30 kV
束流 1 pA 到 200 nA（15 kV时）
光阑角控制镜 内置
探测器 上方和下方探测器
能量过滤器 新型γ过滤器
柔和光束 内置
数字图像 1,280 x 960，2,560 x 1，920, 5,120 x 3,840
样品交换室 单步加载/卸载
样品台 全对中，5轴马达驱动
类型 IA II III
X-Y 70 mm x 50 mm 110 mm x 80 mm 140 mm x 80 mm
倾斜 -5 到 +70° -5 到 +70° -5 到 +70°
旋转 360° 360° 360°
工作
距离 1.5 mm 到25 mm 1.5 mm 到 25 mm 1.5 mm 到 25 mm

真空系统 2 SIPs，磁悬浮轴承 TMP、RP
节能设计 正常运行：1.2 kVA
休眠模式：1 kVA
操作系统关闭（OFF）：0.76 kVA

进口电子显微镜_日本电子扫描电子显微镜（扫描电镜/SEM)_日本电子热场发射扫描电镜JSM-7001F（Thermal Field Emission SEM）
是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的较理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径，即使在大电流和低电压时，也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径最大为200mm的样品。
计算机接口是新的Windows® XP系统，操作简单，具有快速简单地切换操作模式的功能键。最多可同时查看包括混合信号的四幅实时图像，单次扫描就可以记录并马上存储全部的四幅图像。
JSM-7001F扫描电子显微镜还支持与EDS、WDS、电子束光刻系统和图像数据库的整体化。标准的样品台自动化由计算机控制5轴：X、Y、Z、倾斜和对中自转。

低真空操作
JSM-7001FLV场发射扫描电子显微镜具有高分辨率性能，可以在中至高电压千伏（kV）和更高的束流下对非导电样品进行成像。因此无需在样品上镀金属膜或碳膜以供导电，即可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技术。这在以下情况中特别有用: 样品不能修改时，尚需后续测试时，或尚需返回产品线时。

低真空模式规格
样品室压力：最大50 Pa
分辨率：3.0nm（30kV）(BEI)
枪室压力：5 x 10-7 Pa或更小
采用的气体：干燥氮气

扫描电子显微镜JASM-6200
能够在大气压下观察样品
扫描电子显微镜JASM-6200设计原理
扫描电子显微镜JASM-6200(ASEM)是和在其上方设置的光学显微镜共同构成。ASEM在倒立的SEM上方配置了一层薄膜，在透过电子束的同时又阻止了大气通过，这样就可以把大气中的样品与SEM内部的真空隔离开来。样品放置在薄膜的上面，从其下方照射出电子束，由此可以在大气下对样品进行高倍观察。另外通过上方的光学显微镜还可以进行相同视野的观察。使用薄膜构成的ASEM皿(薄膜皿),可以在细胞室内进行细胞的培养。
扫描电子显微镜（SEM)与光学显微镜和激光显微镜相比，具有焦距更深，分辨率更好的特点。相反，得不到象光学显微镜那样获得的纯自然光泽。我们利用扫描电子显微镜的主要特点，可以广泛应用于科研和生产。

扫描电子显微镜JASM-6200特征
完全大气压下的SEM观察
样品置于完全的大气压状态下，能够动态观察液体和气体中的物理和化学反应。不再需要对生物样品做包括脱水和干燥等前处理，因而能够进行高效率地观察。由于消除了真空环境的限制，所以其应用范围将会更为广泛。
与光学显微镜相同的视野观察
薄膜的上方是开放状态，并设置了光学显微镜。光学显微镜与ASEM同轴，操作人员可以用两种显微镜交替观察相同视野。 光学显微镜可以同时配置6个滤光镜组件。标配的滤光镜组件用于明视野和紫外线照射，此外还有选配件的滤光镜组件。通过其组合使用，能够获得各种类型的荧光图像。

开放式样品室
样品室是开放式，可以从外面操作试药 (化学药品的投入)。比如，操作人员可以把ASEM皿放进装置，往样品中滴加化学药品后，就能通过ASEM观察样品。操作人员还能够观测由于样品的体积变化而产生的物理和化学现象。

生物领域的应用
光学显微镜的扩展应用
很多生物学家在他们的日常研究中使用光学显微镜。但是由于波长限制，光学显微镜不可能达到高于0.2um的分辨率。虽然扫描电子显微镜 (SEM) 和透射电子显微镜 (TEM) 具有高分辨率，但很多样品需要很长的前处理过程包括象脱水、干燥等多个步骤，这些往往需要技术熟练者一至几天去完成。这就是为什么 SEM 和 TEM尽管有着高分辨率但却不如光学显微镜那样被广泛使用的原因。ClairScope™ 通过大气压扫描电子显微镜（ASEM）观察大气压下的样品，能够对生物样品进行高倍观察而无需技术熟练者实行脱水、干燥等前处理。包括试药投入的样品前处理过程，步骤简单，只需花费10分钟，这样就大大提高了样品观察的效率。ClairScope™上方的光学显微镜和底部ASEM还能进行相同视野的观察。光学显微镜用户可以首先观察他们熟悉的图像，然后对样品的相应部位做高倍观察。操作人员可以使用荧光染色和光学显微镜去确定组织和蛋白质的局部存在，然后通过ASEM的高分辨率图像对相应部位做进一步地研究。 ClairScope™ 的操作人员可以通过光学显微镜观察活细胞，通过滴加药液观察细胞的反应，在需要的时机做固定、染色处理，然后通过ASEM进行高倍观察。ASEM皿内的细胞培养与传统的塑料皿相同，研究人员可以按通常的程序培养细胞，用光学显微镜进行观察，对感兴趣的部位再通过ASEM做进一步的观察。ClairScope™ 有望被广泛应用于基础生物学、医疗、制药和化妆品等多个领域。

其它应用
化学反应的动态观察
高倍的实时观察能够揭示液体和气体的构造，是通过TEM和环境细胞去完成的，TEM只能使用薄膜样品，有些样品则需要用SEM进行观察。 ClairScope™ 通过ASEM观察大气压下的样品，能够实时观察液体和气体中的反应。薄膜的上方是开放的，便于投入试药和观察气体的放出反应。此外，用上方的光学显微镜可与ASEM交替观察相同的视野。使用本装置还成功地对石膏的水解反应进行了动态观察。

干燥过程的动态观察
在各种产业中，干燥是重要的工序。在高于光学显微镜的倍率下动态观察干燥工序是很困难的。由于ASEM皿的上方是开放的，使用ClairScope™ 能够观察溶剂的蒸发过程，因此成功地实现了对含盐溶剂从干燥到结晶的动态观察。

电化反应的动态观察
电化反应与电池、电镀、腐蚀、提炼等有关，在很多产业中必不可少。迄今为止对液体中的电化反应进行高倍观察并非易事。由于ClairScope™ 通过ASEM能够实时、高倍地观察大气压下液体中的反应，因此也能动态地观察电化反应。ASEM皿的上方是开放的，还可以有效地观察放出气体的电化反应。使用薄膜上形成电极的ASEM皿，还成功地动态地观察了样品的电化反应。

基础物理学
如人们所知，液体中的粒子在一定的条件下进行布朗运动和自组装。这些反应与生命的基本运动机制有关，这一领域的探索将会十分广泛。人们通过光学显微镜研究这些反应。如今ClairScope™ 成功地实现了对粒子的布朗运动和自组装的实时观察。

电子束照射的反应
高强度的电子束能够引起液体和气体中的反应。使用 ClairScope™，操作者可以通过ASEM动态观测电子束诱起的这些反应，还能用上方的光学显微镜观测其反应。

ClairScope™ JASM-6200 的主要规格



大气压扫描电子显微镜 (ASEM)

分辨率 8 nm (30 kV)
放大倍数 100 至100,000倍
加速电压 10, 20, 30 kV
光学显微镜 (OM)
滤光镜组件 可配置6个 (标配组件用于明视野和紫外线照射)
物镜 无罩浸液物镜x 40
CCD 相机 高灵敏度彩色 CCD, 1,600 x 1,200 像素
样品架
ASEM皿 直径35 mm， 窗尺寸0.25平方毫米 (容积约10 cc)
其它
电脑 IBM PC/AT互换机
OS Windows® Vista*
图像显示器 19”LCD 2台

JEOL可移动式扫描电子显微镜JCM-5700
产品详细介绍
JEOL可移动式扫描电子显微镜JCM-5700是一台生产现场-研究室用SEM，在很多地方都可以使用的高性能可移动式SEM 。
运行成本低(长时间不用维护)，检查项目-研究题目等各项条件均可记忆，不同人可以得到良好结果的高度再现性。可以设定独立的操作条件，使用更加自由的MY SEM。
轻松获得几万倍的图像，简单友好的操作界面，仪器启动仅需3分钟。与光学显微镜和激光显微镜的比较，扫描电子显微镜（SEM)与光学显微镜和激光显微镜相比，具有焦距更深，分辨率更好的特点。相反，得不到象光学显微镜那样获得的纯自然光泽。我们利用扫描电子显微镜的主要特点，可以广泛应用于科研和生产。

扫描电子显微镜的与光学显微镜和激光显微镜的比较
光学显微镜＜样品: 印刷基板＞            扫描电子显微镜 JCM-5700

鲜明的SEM图像上进行高精度测量

从极低倍到高倍，在图像上就可以直接进行长度和角度测量，即在鲜明的图像上进行高精度测量。保存后的图像也可以用SMile View软件（选购件）打开并进行测量。

3D观察-测量（选购）
利用扫描电子显微镜焦深大的特点，可以进行立体的高度测量。同一个视野，倾斜角度改变10°左右，获得两张图像，进行高度测量。

不仅可以观察图像，还可以进行成分分析

不仅可以利用二次电子信息进行样品表面观察，还可以利用背散射电子成份衬度像进行异物及多层膜观察。另外，还可以使用能量分散型光谱仪（EDS）进行元素分析。日本电子产能谱仪JED-2300可以与主机实现一体化，将点镜扩展为分析型点镜。

扫描电子显微镜JSM-6610A/JSM-6610LA

详细介绍
JSM-6610A/JSM-6610LA分析型扫描电子显微镜，与日本电子公司的元素分析仪（EDS）组合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。
大样品室和马达驱动样品台
样品室对应样品的直径可达到200mm,5轴马达驱动确保了高效率的样品移动和观察。
操作窗口
直观的操作界面的设计，简明易懂便于迅速掌握操作。
支持多用户
单个用户可以根据常用功能设置相应的图标，营造高效率的操作环境。用户登录时，即可加载已注册过的设定。

同时显示两幅图像
画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。
微细结构测量
适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像，保存在文件中。

标准的全对中样品台，能收录三维照片
3D Sight（选配件），能够进行平面测量和高度测量，实现立体俯视图。
从图像观察到元素分析，配合连贯一条龙
分析型扫描电子显微镜配备两台监视器，一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析（EDS）。一只通用鼠标即可同时控制两台监视器。大尺寸画面使操作更加简便与舒适。


维护简便
工厂预置中心灯丝，十分便于更换。因此，可长期保持稳定的高性能。此外，操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。
可信赖的真空系统
真空系统使用高性能的扩散泵保证了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件，体现了操作稳定，维护简便的特色。
JSM-6610规格
保证分辨率 3.0nm（30kV）
8.0nm（3kV）
15nm（1kV）
放大倍数 5至300,000x
加速电压 0.3kV至30kV
电子枪 工厂预对中灯丝
聚光镜 变焦聚光镜
物镜 锥形物镜
样品台 全对中样品台
X-Y 125mm-100mm
Z 5mm至80mm
旋转 360°
倾斜 －10°至＋90°
排气系统
（高真空模式） DPx1，RPx1
排气系统
（低真空模式） DPx1，RPx2

日本电子扫描电子显微镜JSM-6510A/JSM-6510LA
详细介绍
日本电子扫描电子显微镜JSM-6510A/JSM-6510LA型与日本电子公司的元素分析仪（EDS），统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。
操作窗口：
直观的操作界面的设计，简明易懂便于迅速掌握操作。
支持多用户：
单个用户可以根据常用功能设置相应的图标，营造快捷的操作环境。用户登录时，即可加载已注册过的设定。
同时显示两幅图像：
画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。
微细结构测量：
适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像，保存在文件中。
标准的全对中样品台，能收录三维照片
3D Sight（选配件），能够进行平面测量和高度测量，实现立体俯视图。
从图像观察到元素分析，配合连贯一条龙
分析型扫描电子显微镜配备两台监视器，一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析（EDS）。一只通用鼠标即可同时控制两台监视器。大尺寸画面使操作更加简便与舒适。
维护简便：
工厂预置中心灯丝，十分便于更换。因此，可长期保持稳定的高性能。此外，操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。
可信赖的真空系统：
真空系统使用高性能的扩散泵保证了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件，体现了操作稳定，维护简便的特色。

日本电子扫描电子显微镜JSM-6510A/ JSM-6510LA型的JSM-6510规格
保证分辨率 3.0nm（30kV）
8.0nm（3kV）
15nm（1kV）
放大倍数 5至300,000x
加速电压 0.5kV至30kV
电子枪 工厂预对中灯丝
聚光镜 变焦聚光镜
物镜 锥形物镜
样品台 全对中样品台
X-Y 80mm-40mm
Z 5mm至48mm
旋转 360°
倾斜 －10°至＋90°
排气系统
（高真空模式） DPx1，RPx1
排气系统
（低真空模式） DPx1，RPx2